影響OTDR測(cè)試誤差的主要因素
隨著OTDR技術(shù)日益成熟，其測(cè)量精度也不斷提高，但是還會(huì)有工程師朋友反映有時(shí)測(cè)試的數(shù)據(jù)與線路上故障點(diǎn)的位置有較大
的差距，是什么原因造成了這種情況？以下為您總結(jié)影響OTDR測(cè)試誤差的引四大類主要因素。
OTDR測(cè)試儀表存在的固有偏差
由OTDR的測(cè)試原理可知，它是按一定的周期向被測(cè)光纖發(fā)送光脈沖，再按一定的速率將來(lái)自光纖的背向散射信號(hào)抽樣、
量化、編碼后，存儲(chǔ)并顯示出來(lái)。OTDR儀表本身由于抽樣間隔而存在誤差，這種固有偏差主要反映在距離分辯率上。OTDR的
距離分辯率正比于抽樣頻率。
事件盲區(qū)引起的誤差
脈沖寬度設(shè)置的越寬，OTDR輸出的能量越大，可測(cè)的距離越遠(yuǎn)，但使事件的盲區(qū)加大，降低了分辨率和測(cè)試精度，一般
采用OTDR的縱橫向放大功能提高分辨率，減小讀數(shù)和測(cè)量誤差。如在光纜單盤檢測(cè)時(shí)，為了避開開始段較大的盲區(qū)，在OTDR
輸出端口先接入幾百米的裸纖，這樣測(cè)試的數(shù)據(jù)就比較準(zhǔn)確。若直接測(cè)，必須把游標(biāo)打在盲區(qū)后曲線趨平直的地方，不然可能
造成較大的測(cè)試誤差。
測(cè)試儀表操作不當(dāng)產(chǎn)生的誤差
設(shè)定儀表的折射率偏差產(chǎn)生的誤差：不同類型和廠家的光纖的折射率是不同的。使用OTDR測(cè)試光纖長(zhǎng)度時(shí)，必須先進(jìn)行
儀表參數(shù)設(shè)定，折射率的設(shè)定就是其中之一。當(dāng)幾段光纜的折射率不同時(shí)可采用分段設(shè)置的方法，以減少因折射率設(shè)置誤差而
造成的測(cè)試誤差。
量程范圍選擇不當(dāng)：OTDR儀表測(cè)試距離分辯率為1米時(shí)，它是指圖形放大到水平刻度為25米/格時(shí)才能實(shí)現(xiàn)。儀表設(shè)計(jì)是
以光標(biāo)每移動(dòng)25步為1滿格。在這種情況下，光標(biāo)每移動(dòng)一步，即表示移動(dòng)1米的距離，所以讀出分辯率為1米。如果水平刻度
選擇2公里/每格，則光標(biāo)每移動(dòng)一步，距離就會(huì)偏移80米。由此可見，測(cè)試時(shí)選擇的量程范圍越大，測(cè)試結(jié)果的偏差就越大。
脈沖寬度選擇不當(dāng)： 在脈沖幅度相同的條件下，脈沖寬度越大，脈沖能量就越大，此時(shí)OTDR的動(dòng)態(tài)范圍也越大，相應(yīng)盲
區(qū)也就大。
平均化處理時(shí)間選擇不當(dāng)：OTDR測(cè)試曲線是將每次輸出脈沖后的反射信號(hào)采樣，并把多次采樣做平均處理以消除一些隨
機(jī)事件，平均化時(shí)間越長(zhǎng)，噪聲電平越接近最小值，動(dòng)態(tài)范圍就越大。平均化時(shí)間越長(zhǎng)，測(cè)試精度越高，但達(dá)到一定程度時(shí)精
度不再提高。為了提高測(cè)試速度，縮短整體測(cè)試時(shí)間，一般測(cè)試時(shí)間可在0.5~3分鐘內(nèi)選擇。
光標(biāo)位置放置不當(dāng)：光纖活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂都會(huì)引起損耗和反射，光纖末端的破裂端面由于末端端
面的不規(guī)則性會(huì)產(chǎn)生各種菲涅爾反射峰或者不產(chǎn)生菲涅爾反射。如果光標(biāo)設(shè)置不夠準(zhǔn)確，也會(huì)產(chǎn)生一定誤差。
光纖插接件，連接器件不清潔，物理連接性能不良
可能引起較大的測(cè)試誤差，這在日常測(cè)試中經(jīng)常碰到，它可以使曲線上產(chǎn)生嚴(yán)重的噪聲和毛刺，甚至曲線不能測(cè)出。
細(xì)致的清潔工作有著重要的意義，測(cè)試中不可忽視。
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